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  • FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測量系統(tǒng)

    FR-Ultra 是一款專用于精確測量半導體以及介電材料超厚層的專用設(shè)備。 藉由先進的光學器件，F(xiàn)R-Ultra 可以測量光滑或粗糙的薄膜以及較厚的基材。

    更新時間：2024-03-19
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