當(dāng)前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 膜厚儀 > 全自動(dòng)同質(zhì)膜厚測(cè)量系統(tǒng) > UltraFilm薄膜測(cè)量系統(tǒng)
簡(jiǎn)要描述：系統(tǒng)可以為各種材質(zhì)薄膜提供高精度的厚度均勻性測(cè)量。使用創(chuàng)新的融合光譜反射技術(shù)、近紅外干涉技術(shù)以及高亮度光源驅(qū)動(dòng)的光譜橢偏儀技術(shù)的多傳感器融合測(cè)量技術(shù)，是國(guó)內(nèi)可以實(shí)現(xiàn)同質(zhì)膜厚全自動(dòng)檢測(cè)的系統(tǒng)。
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商產(chǎn)品資料：更新時(shí)間：2024-11-26訪 問(wèn) 量： 2358產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category詳細(xì)介紹
薄膜電阻測(cè)量?jī)x系統(tǒng)可以為各種材質(zhì)薄膜提供高精度的厚度均勻性測(cè)量。使用創(chuàng)新的融合光譜反射技術(shù)、近紅外干涉技術(shù)以及高亮度光源驅(qū)動(dòng)的光譜橢偏儀技術(shù)的多傳感器融合測(cè)量技術(shù)，是國(guó)內(nèi)可以實(shí)現(xiàn)同質(zhì)膜厚全自動(dòng)檢測(cè)的系統(tǒng)。
一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一
*1：靜態(tài)精度或可稱(chēng)為同點(diǎn)位多次連續(xù)測(cè)量的最大偏差值，數(shù)據(jù)為針對(duì)50um厚度雙拋玻璃片進(jìn)行實(shí)驗(yàn)的結(jié)果
*2：多次取放測(cè)量同點(diǎn)位數(shù)據(jù)的最大三倍標(biāo)準(zhǔn)差值，數(shù)據(jù)為針對(duì)50um厚度雙拋玻璃片進(jìn)行實(shí)驗(yàn)的結(jié)果
產(chǎn)品咨詢(xún)